IMT Seminar  2016

Am 17. November 2016 veranstaltet das Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) des KIT ein Seminar zum Thema "Surface analysis Using Scanning Probes and Related Techniques". Alle Interessierten sind eingeladen, an dem kostenfreien Seminar teilzunehmen. Die Teilnehmerzahl ist begrenzt auf 80 Personen.

 

  • Weitere Informationen zu Programm und Anmeldung finden Sie auf der IMT website http://www.imt.kit.edu/afm-course.php

 

WANN: 17. November 2016, 09:30 – 17:00

WO: Seminarraum (Rm 405) des Instituts für Mikrostrukturtechnik (IMT), Campus Nord KIT, 76344 Eggenstein-Leopoldshafen, Deutschland

Kontakt & Anmeldung: Richard Thelen, Tel.: +49 721 608-22727, Diese E-Mail-Adresse ist vor Spambots geschützt! Zur Anzeige muss JavaScript eingeschaltet sein!

 

Programm

  • 09:30 Basic Principles of Atomic Force Microscopy (Stefan Walheim, INT)
  • 10:30 Coffee break
  • 11:00 Atomic Force Microscopy in Ultra-high Vacuum and X-ray scattering as complementary methods (Bärbel Krause, IPS)
  • 12:00 Lunch break
  • 13:00 Nanoindentation (Ruth Schwaiger, IAM)
  • 13:45 From the Basics of XPS and ToF-SIMS to Applications in Materials (Michael Bruns, IAM)
  • 14:30 Coffee break
  • 15:00 Combining Equipment for Sophisticated Metrology Tasks (Richard Thelen, IMT)
  • 15:45 Dip-Pen Nanolithography (Michael Hirtz, INT)
  • 16:30 End of course

 

 

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